机译:通过像差校正的高分辨率透射电子显微镜评估alsb / Gaas(001)界面中的堆垛层错和相关的部分位错
机译:通过像差校正的高分辨率透射电子显微镜评估AlSb / GaAs(001)界面中的堆垛层错和相关的部分位错
机译:像差校正透射电子显微镜分析3C-SiC / Si(0 0 1)界面堆垛层错和失配位错的原子结构
机译:ZnSe / GaAs(001)拟晶外延层中的断层梯形和断层管的透射电镜研究
机译:像差校正透射电子显微镜对3C-SiC / Si(001)界面原子结构和堆垛层错的分析
机译:用原位和像差校正扫描透射电子显微镜表征电化学和电子材料
机译:失配位错能否位于InAs / GaAs(001)外延量子点的界面上方?
机译:在GaAs(001)基板上生长的垂直堆叠的替代矩形矩阵半型喹系纳米复合异质结构的透射电子显微镜
机译:硅位错和晶界核心的成像结构和杂质:高分辨率透射电子显微镜和计算机图像模拟研究